CLJ-01E半導體激光塵埃粒子計數(shù)器

CLJ-01E型（半導體激光）塵埃粒子計數(shù)器（LED顯示）
主要技術參數(shù)及性能：
1.光源: 全半導體 激光光源
2.采樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min)
3.檢測范圍: 100級～100萬級
4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L
5.粒徑通道: 0.3 0.5 1.0 3.0 5.0 10.0（μm）六檔
6.顯示或打印可將2.83升/分內所含顆粒轉換成1m3所含顆粒數(shù)。
7.采樣周期: 1～10 (min)
8.自凈時間: ≤15 (min)
9.校準：可追溯美國國家標準技術協(xié)會（NIST），我公司已通過國家計量建標考核，可追溯至上海計量測量技術研究院可自行進行校準或第三方國家計量機構進行校準
10.工作環(huán)境: 溫度:10～35℃ 相對溫度: 20～75%RH
11.大功耗: 25W
12.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購）
（1） 溫度：0～50℃±1℃
（2） 濕度：0～100%RH±5%
13.采樣點數(shù) 2～7點設定
14.每點采樣次數(shù) 2～9次設定
15.UCL報表：符合FS-209E、中國GMP的標準
16.工作時間：8 小時
17.電源： AC220V±10% 50±2Hz
18.重量:4.8kg
19.外形尺寸: 260×130×340
20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測，依次數(shù)字顯示或自選粒徑顯示。
21.備注: 內置打印機、自動判斷凈化等級、等動力采樣頭、采樣架
(溫濕度探頭為選購件)

CLJ-01E半導體激光塵埃粒子計數(shù)器